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ZEISS Xradia 800 Ultra

产品信息
产品类别:电脑断层扫描测量机
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产品详情

实验室中的同步加速器性能

  使用蔡司Xradia 800 Ultra X射线显微镜,可实现低至50 nm的空间分辨率,是基于实验室的X射线成像系统中最高的。 随着非破坏性3D成像在当今的突破性研究中发挥至关重要的作用,您将在基于实验室的超高分辨率系统中体验无与伦比的性能。 创新的Xradia Ultra架构采用吸收和相位对比成像模式以及8 keV的X射线能量,采用同步加速器改造的独特光学元件。 使用Xradia 800 Ultra,期望获得无与伦比的原位和4D功能,用于研究材料随时间的演变,并扩展材料科学,生命科学,自然资源和各种工业应用中使用的X射线成像的极限。

  亮点

  Xradia 800 Ultra的分辨率高达50 nm,可让您深入了解以前无法通过传统实验室X射线技术获得的微观结构和工艺。 使用8 keV X射线进行操作可为各种材料提供出色的穿透力和对比度,使您能够观察其自然状态下的结构和材料。

  蔡司Xradia 800 Ultra提供可靠的内部3D信息,否则只能通过横截面等破坏性方法访问。 大工作距离和大气样本环境使您可以轻松地进行原位研究。

  优势

  •   非破坏性3D X射线成像允许重复成像相同样品,允许直接观察微观结构演变
  •   保持低至50nm的高分辨率用于原位装置内的样品成像
  •   用于断层摄影重建的自动图像对准
  •   可切换的视场范围从15到60μm
  •   吸收和Zernike相衬成像模式
  •   在您的实验室中开发,准备和测试您计划的同步加速器实验,以提高同步加速器光束时间的有效性
  •   现在,Scout-and-Scan控制系统具有简单的基于工作流程的用户界面,非常适合中央成像实验室,用户可以拥有各种各样的经验水平

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